high-angle annular dark field

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• Annular dark-field imaging — is a method of mapping samples in a scanning transmission electron microscope (STEM). These images are formed by collecting scattered electrons with an annular dark field detector in scanning transmission electron microscopes.For dark field… …   Wikipedia

• Dark field microscopy — (dark ground microscopy) describes microscopy methods, in both light and electron microscopy, which exclude the unscattered beam from the image. As a result, the field around the specimen (i.e. where there is no specimen to scatter the beam) is… …   Wikipedia

• List of materials analysis methods — List of materials analysis methods: Contents: Top · 0–9 · A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z μSR see Muon spin spectroscopy …   Wikipedia

• Royal Medal — Die Royal Medal, auch The Queen s Medal genannt, ist eine von der Royal Society verliehene Auszeichnung für Wissenschaftler, die innerhalb des Commonwealth of Nations besonders wichtige Beiträge zur Weiterentwicklung der Wissenschaften geleistet… …   Deutsch Wikipedia

• Queen's Medal — Die Royal Medal, auch The Queen s Medal genannt, ist eine von der Royal Society verliehene Auszeichnung für Wissenschaftler, die innerhalb des Commonwealth of Nations besonders wichtige Beiträge zur Weiterentwicklung der Wissenschaften geleistet… …   Deutsch Wikipedia

• Raster-Transmissionselektronenmikroskop — Ein Raster Transmissionselektronenmikroskop (engl. Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert.… …   Deutsch Wikipedia

• Rastertransmissionselektronenmikroskop — Dieser Artikel wurde den Mitarbeitern der Redaktion Physik zur Qualitätssicherung aufgetragen. Wenn Du Dich mit dem Thema auskennst, bist Du herzlich eingeladen, Dich an der Prüfung und möglichen Verbesserung des Artikels zu beteiligen. Der… …   Deutsch Wikipedia

• STEM — Ein Raster Transmissionselektronenmikroskop (engl. Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert.… …   Deutsch Wikipedia

• Franckéite — Franckéite[1] Catégorie II : sulfures et sulfosels[2] …   Wikipédia en Français

• Transmissions-Elektronenmikroskop — Strahlengang im TEM mit kristalliner Probe, vereinfacht dargestellt. Die obere Beugungsebene entspricht der hinteren Brennebene des Objektivs. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine… …   Deutsch Wikipedia

• Transmissionselektronenmikroskop — Strahlengang im TEM mit kristalliner Probe, vereinfacht dargestellt. Die obere Beugungsebene entspricht der hinteren Brennebene des Objektivs. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine… …   Deutsch Wikipedia